Tancar
09/09/2015
El sincrotró ALBA en el desenvolupament dels futurs ordinadors
Un equip d'investigadors del Consell Superior d'Investigacions Científiques (CSIC) i el Sincrotró ALBA han desenvolupat un nou mètode per fabricar i caracteritzar nanoestructures de ferrita de cobalt d'una qualitat molt superior a l'aconseguida fins ara. L'estudi, publicat a finals d’agost a Advanced Materials, té aplicacions en espintrònica, una tecnologia per crear sistemes avançats de computació.

El creixement i la caracterització inicial s'ha dut a terme al microscopi d'electrons de baixa energia i de fotoelectrons de la línia de llum CIRCE del Sincrotró ALBA, dipositant els àtoms de cobalt i ferro sobre el substrat a alta temperatura i en presència d’oxigen.

D’altra banda, a principis de mes, s’ha publicat un article a Nature Communications sobre l’ús de la llum sincrotró d’ALBA en l’estudi de la imantació de capes magnètiques soterrades. Durant les dues darreres dècades, els avenços científics en nanomagnetisme han permès la creació de dispositius d'emmagatzematge de dades cada cop més petits amb major capacitat i millor funcionament. Aquests dispositius estan formats per apilaments de capes molt fines de materials magnètics amb diferents propietats.

Un grup d'investigadors del Sincrotró ALBA, de la Universitat d'Oviedo, de la Universitat de Porto i del Centre Nacional de Microelectrònica (CNM-CSIC) ha dut a terme una recerca que ofereix nova informació sobre els dominis magnètics a les capes magnètiques ultrafines. Els investigadors, utilitzant el microscopi de raigs X del Sincrotró ALBA, han pogut mesurar amb precisió els angles de les imantacions dels dominis i determinar com canvien quan estan soterrats, és a dir, quan estan coberts per una altra capa de material.

Imatge: imatge dels dominis magnètics, Blanco-Roldán et al., veure Referència 2
 
Referències:
  1. L. Martín-García, A. Quesada, C. Munuera, J.F. Fernández, M. García-Hernández, M. Foerster, L. Aballe, J. de la Figuera. Atomically flat ultrathin cobalt ferrite islands. Advanced Materials. DOI: 10.1002/adma.201502799
  2. "Nanoscale Imaging of Buried Topological Defects with Quantitative X-Ray Magnetic Microscopy" C. Blanco-Roldán, C. Quirós, A. Sorrentino, A. Hierro-Rodríguez, L.M. Álvarez-Prado, R. Valcárcel, M. Duch, N. Torras, J. Esteve, J.I.Martín, M. Vélez, J.M. Alameda, E. Pereiro, S. Ferrer Nature Communications DOI: 10.1038/NCOMMS9196

Més notícies

20/05/2014 SENER inaugura al Barcelona Synchrotron Park la seva nova seu corporativa a Catalunya 15/05/2014 MATGAS es converteix en un laboratori de R+D de referència mundial 07/05/2014 Hewlett-Packard tindrà el seu centre mundial de desenvolupament d’impressores 3D a Barcelona 28/04/2014 Reverteixen la pèrdua de memòria en ratolins models d’Alzheimer 25/04/2014 Més de 30 empreses assisteixen a la jornada sobre aplicacions industrials del Sincrotró ALBA 15/04/2014 La Comissió Europea escull Barcelona com la primera Capital Europea de la Innovació
41 42 43 44 45 46 47 48 49 50