Tancar
09/09/2015
El sincrotró ALBA en el desenvolupament dels futurs ordinadors
Un equip d'investigadors del Consell Superior d'Investigacions Científiques (CSIC) i el Sincrotró ALBA han desenvolupat un nou mètode per fabricar i caracteritzar nanoestructures de ferrita de cobalt d'una qualitat molt superior a l'aconseguida fins ara. L'estudi, publicat a finals d’agost a Advanced Materials, té aplicacions en espintrònica, una tecnologia per crear sistemes avançats de computació.

El creixement i la caracterització inicial s'ha dut a terme al microscopi d'electrons de baixa energia i de fotoelectrons de la línia de llum CIRCE del Sincrotró ALBA, dipositant els àtoms de cobalt i ferro sobre el substrat a alta temperatura i en presència d’oxigen.

D’altra banda, a principis de mes, s’ha publicat un article a Nature Communications sobre l’ús de la llum sincrotró d’ALBA en l’estudi de la imantació de capes magnètiques soterrades. Durant les dues darreres dècades, els avenços científics en nanomagnetisme han permès la creació de dispositius d'emmagatzematge de dades cada cop més petits amb major capacitat i millor funcionament. Aquests dispositius estan formats per apilaments de capes molt fines de materials magnètics amb diferents propietats.

Un grup d'investigadors del Sincrotró ALBA, de la Universitat d'Oviedo, de la Universitat de Porto i del Centre Nacional de Microelectrònica (CNM-CSIC) ha dut a terme una recerca que ofereix nova informació sobre els dominis magnètics a les capes magnètiques ultrafines. Els investigadors, utilitzant el microscopi de raigs X del Sincrotró ALBA, han pogut mesurar amb precisió els angles de les imantacions dels dominis i determinar com canvien quan estan soterrats, és a dir, quan estan coberts per una altra capa de material.

Imatge: imatge dels dominis magnètics, Blanco-Roldán et al., veure Referència 2
 
Referències:
  1. L. Martín-García, A. Quesada, C. Munuera, J.F. Fernández, M. García-Hernández, M. Foerster, L. Aballe, J. de la Figuera. Atomically flat ultrathin cobalt ferrite islands. Advanced Materials. DOI: 10.1002/adma.201502799
  2. "Nanoscale Imaging of Buried Topological Defects with Quantitative X-Ray Magnetic Microscopy" C. Blanco-Roldán, C. Quirós, A. Sorrentino, A. Hierro-Rodríguez, L.M. Álvarez-Prado, R. Valcárcel, M. Duch, N. Torras, J. Esteve, J.I.Martín, M. Vélez, J.M. Alameda, E. Pereiro, S. Ferrer Nature Communications DOI: 10.1038/NCOMMS9196

Més notícies

30/09/2014 Boehringer Ingelheim inaugura el seu nou centre TIC 24/09/2014 Vine a descobrir el Sincrotró ALBA! 16/09/2014 SENER aconsegueix el seu primer contracte amb Embraer 09/09/2014 Del totxo a la neurona 02/09/2014 La UAB consolida la seva posició al rànquing de Xangai 27/08/2014 Ascamm desenvolupa un dron pels rescats
38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48